形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng)

VK-X 系列

本產(chǎn)品已停產(chǎn)。

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形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng) VK-X 系列

VK-X 系列 - 形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng)

細(xì)微表面形狀差異數(shù)值化的非接觸式粗糙度儀已至佳境。

產(chǎn)品特性

  • 從50 mm 到1 nm 的高精度測(cè)量
  • 測(cè)量區(qū)域 傳統(tǒng)產(chǎn)品的16 倍* *與VK-X250的比較
  • 測(cè)量時(shí)間 最快5 秒

推薦

全新產(chǎn)品

搭載白光干涉儀，可應(yīng)對(duì)從納米到毫米級(jí)別的測(cè)量

VK-X3000 系列 - 形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng)

  • 納米/微米/毫米一臺(tái)即可完成測(cè)量
  • 通過(guò)三重掃描方式發(fā)揮更強(qiáng)大的測(cè)量能力
  • 實(shí)現(xiàn)目標(biāo)樣品的臺(tái)階高度、平整度、粗糙度、膜厚等測(cè)量

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