分光干涉位移型多層膜厚測量儀
SI-T 系列
分光干涉位移型多層膜厚測量儀 SI-T 系列
從單層到多層，可以實現(xiàn)在線穩(wěn)定測量
追求“易用性”，使導(dǎo)入變得更為簡單。融合 KEYENCE 的激光位移計和分光干涉計，改變了當(dāng)今膜厚測量儀的傳統(tǒng)概念。
產(chǎn)品特性
粘附層也可以穩(wěn)定測量
借助 KEYENCE配備的光量累計功能，
類似粘附層等粗糙的表面，也可以實現(xiàn)穩(wěn)定測量。
實現(xiàn)廣范圍測量
在拉伸制程等過程中，可以應(yīng)用于上游至下游的各種場所。
針對測量場景量身定制的陣容
多層位移測量型 SI-T10
長距離厚度測量型 SI-T80
應(yīng)用
在制程內(nèi)測量基材厚
涂布后的濕膜厚度測量
