所謂形狀公差，就是決定目標(biāo)物（部件）形狀的基本幾何公差。
測(cè)量對(duì)象為筆直度、圓度、平坦度、輪廓等，借助游標(biāo)卡尺、千分尺、高度尺規(guī)等常用工具也能測(cè)量。
而三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x測(cè)量，則具有測(cè)量精度高、速度快、穩(wěn)定性高、可分析測(cè)得數(shù)據(jù)等特點(diǎn)。